X射線熒光光譜儀檢測分析原理
點擊次數(shù):1790 更新時間:2020-11-23
X射線熒光光譜分析儀可以對各種樣品的元素組成進行定量分析,包括壓片、融珠、粉末液體、甚至是龐大的樣品。它使用一種高功率X射線管達到了檢測限低和測量時間短的效果。具有重現(xiàn)性好,測量速度快,靈敏度高的特點。
X射線熒光光譜分析儀物理原理
當材料暴露在短波長X光檢查,或伽馬射線,其組成原子可能發(fā)生電離,如果原子是暴露于輻射與能源大于它的電離勢,足以驅逐內層軌道的電子,然而這使原子的電子結構不穩(wěn)定,在外軌道的電子會“回補”進入低軌道,以下來的洞。在“回補”的過程會釋出多余的能源,光子能量是相等兩個軌道的能量差異的。因此,物質放射出的輻射,這是原子的能量特性。廣泛應用于機械加工、鋼鐵貿易、船舶制造、工程公司、冶金等企業(yè)中。
X射線熒光光譜分析儀由激發(fā)系統(tǒng)、分光系統(tǒng)以及儀器控制和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)組成,具有的高靈敏度與寬動態(tài)范圍的特性使其成為了同等級中性能高的微型光譜儀。其高的性能可以大大提高吸光度、反射率、熒光與拉曼檢測的度。
激發(fā)系統(tǒng),主要部件為X射線管,可以發(fā)出原級X射線(一次X射線),用于照射樣品激發(fā)熒光X射線;
分光系統(tǒng),對來自樣品待測元素發(fā)出的特征熒光X射線進行分辨(主要為分光晶體);探測系統(tǒng),對樣品待測元素的特征熒光X射線進行強度探測;
儀器控制和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng),處理探測器信號,給出分析結果。
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